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期刊介绍

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Metrology (ISSN 2673-8244) 是一本国际化、经同行评审的开放获取期刊。该刊涵盖测量app或测量技术的理论、设计和应用。期刊旨在发表计量学领域高质量的、具有前沿知识的实验和创新成果的app论文。

主题领域包括但不限于：复杂测量系统的SI单位溯源性、不确定性评价、微纳米系统、关于测量原理的思考、误差分离方法、受到SI重新定义启发的新方法、Cyberphysical系统、人工智能 (尤其是其对可追溯性的影响)、计量学的机器学习、数字孪生、可持续制造的计量、动态过程中的测量不确定度。

期刊主编

Prof. Dr. Han Haitjema

比利时鲁汶大学机械工程系

投稿优势

更高文章曝光度

Metrology 期刊目前已被CNKI、J-Gate、PATENTSCOPE等多个数据库收录。

更快发表速度

Time to First Decision：18 Days

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